半導(dǎo)體測試設(shè)備供應(yīng)商愛德萬測試(Advantest Corporation)針對運算效能達百萬兆級(Exascale)的先進數(shù)位IC ，發(fā)表最新次世代V93000測試機。該系統(tǒng)搭載最新測試頭，結(jié)合Xtreme Link科技及EXA Scale通用數(shù)位和電源供應(yīng)卡，不僅能支援最新測試方法，更能降低測試成本、縮短產(chǎn)品上市時程。

愛德萬測試最新V93000 EXA Scale世代在V93000架構(gòu)上解決當(dāng)前面臨的極端測試挑戰(zhàn)。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測試最新一代8核心的測試處理器，以獨特的能力加速並簡化測試工作。

現(xiàn)今先進半導(dǎo)體製程帶來技術(shù)的變革，得以即時整合來自物聯(lián)網(wǎng)(IoT)、手持裝置、汽車和大型伺服器等等無數(shù)個資料來源。隨著行動處理器、高效能運算 (HPC) 和人工智慧 (AI) 晶片持續(xù)進化，需要處理的資料量也跟著爆炸性成長。新的測試挑戰(zhàn)伴隨這些進步接踵而來，譬如極大量的掃描數(shù)據(jù)、極端電源需求、快速的良率學(xué)習(xí)和多工同測的配置，在在都需要解決。

愛德萬測試最新V93000 EXA Scale世代在已獲業(yè)界肯定的V93000架構(gòu)上，運用創(chuàng)新技術(shù)解決上述挑戰(zhàn)。所有EXA Scale卡都配備愛德萬測試最新一代8核心的測試處理器，以獨特的能力加速並簡化測試工作。此外，V93000 EXA Scale系統(tǒng)還採用愛德萬測試專利Xtreme Link科技，乃是專為自動測試設(shè)備 (ATE) 所設(shè)計的通訊網(wǎng)路，能執(zhí)行高速資料連接、嵌入式運算能力以及即時卡對卡 (card-to-card) 通訊。

這套系統(tǒng)的最新Pin Scale 5000數(shù)位卡，正是為了伴隨著大量數(shù)位設(shè)計所導(dǎo)致的爆炸性成長的掃描資料而設(shè)計。Pin Scale 5000以可達5Gbit/s的速度為掃瞄測試奠定了新標(biāo)準(zhǔn)，同時提供市面上深度最大的向量記憶體，並運用Xtreme Link科技，實現(xiàn)業(yè)界最快的處理速度。有了這項科技，客戶便能為自家晶片選擇最有效率的掃描方法。

在供電電壓小於1V同時能提供高達好幾千安培的超高電流需求下，使得ATE的電力傳輸能力成為決定性關(guān)鍵。XPS256電源供應(yīng)卡是另一項業(yè)界創(chuàng)新，配備單一DPS卡就能涵蓋所有電源需求：極細粒度電源 (fine-granular power)、無限量且具彈性的結(jié)夥 (ganging)，以及超凡的動態(tài)與靜態(tài)效能。

Pin Scale 5000數(shù)位卡及XPS256電源供應(yīng)卡均具備256個通道，在保有V93000高度整合優(yōu)勢的同時，使得密度倍增。多工同測的設(shè)置可以部署在較小型的實體系統(tǒng)上，藉此減少基礎(chǔ)架構(gòu)成本和空間需求。

愛德萬測試V93000事業(yè)部常務(wù)總監(jiān)暨執(zhí)行副總Juergen Serrer表示：「當(dāng)我們逐步邁向百萬兆級運算時代，客戶在效能、測試成本、品管以及量產(chǎn)時程等方面所面臨的極端測試挑戰(zhàn)，全都能透過EXA Scale為久經(jīng)淬煉之V93000平臺注入的創(chuàng)新技術(shù)獲得解決?！?/p>

可擴充的解決方案拓及各式大小的測試頭，並具備在單一測試系統(tǒng)上，針對數(shù)位、射頻、類比和電源等等混合元件功能進行測試的能力。

V93000 EXA Scale世代依舊嚴守愛德萬測試對於平臺相容性的承諾。現(xiàn)有V93000測試載板和Smart Scale卡，都能與最新V93000 EXA Scale世代無縫接軌，達到最佳資產(chǎn)利用。也藉由延續(xù)使用獲業(yè)界肯定的SmarTest軟體，客戶更能受益於已擁有龐大建置基礎(chǔ)的軟體架構(gòu)和工具。

愛德萬測試已向多家客戶出貨數(shù)十套V93000 EXA Scale系統(tǒng)。