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    Tektronix展示為資料中心網(wǎng)路開發(fā)的最新光學測試創(chuàng)新技術
    [SmartAuto 陳復霞整理 報導]   2017年03月17日 星期五 瀏覽人次: [8404]

    Tektronix在OFC 2017上將展示100G、400G標準光學量測技術的最新發(fā)展,以及支援多OMA系統(tǒng)的光學調變分析軟體的端對端示範?

    Tektronix展示為資料中心網(wǎng)路開發(fā)的最新光學測試創(chuàng)新技術
    Tektronix展示為資料中心網(wǎng)路開發(fā)的最新光學測試創(chuàng)新技術

    全球量測解決方案供應商Tektronix(太克科技)將在OFC 2017上展示為資料中心網(wǎng)路所開發(fā)的最新光學通訊測試技術,OFC 2017是專為全球光學通訊和網(wǎng)路專業(yè)人士所舉辦的研討會。本次大會將有超過600間公司參展,並舉辦1,150場技術和商業(yè)簡報,來協(xié)助 13,000多名與會者利用最新光學通訊創(chuàng)新技術,且滿足消費者和企業(yè)對更多頻寬及更高資料中心效能不斷成長的需求。

    Tektronix高效能示波器總經(jīng)理Brian Reich表示:「隨著100G投入生產(chǎn)及400G設計工作全面展開,與矽晶和系統(tǒng)設計特性分析、驗證和除錯有關的測試挑戰(zhàn)將日益嚴峻。OFC與會者將能親眼目睹Tektronix正協(xié)助廣大的客戶不斷挑戰(zhàn)更高資料速率、新興標準及尖端科技研發(fā)的極限,同時利用我們的高效能解決方案有效縮短產(chǎn)品上市的週期。」

    資料中心網(wǎng)路技術提供商希望能不斷提升高速資料傳輸?shù)娜萘亢途_度。Tektronix提供了一套可分析電氣和光學效能特性的完善高效能解決方案,並將在OFC (展位 2339 號) 進行展示,內容包括:

    ? DSA8300 取樣示波器:搭配 80GHz 光學取樣模組,可支援針對 TDECQ 以 IEEE 802.3bs為基礎的 400G 光學測試,包括適用於 NRZ 和 PAM-4 (高達28GBd) 的高靈敏度單一模式/多模式光學量測。

    ? DPO70000SX 70GHz ATI 高效能示波器:可利用適用於 400G 標準的即時觸發(fā)和後等化錯誤偵測功能,分析單次 PAM-4 訊號。

    ? 支援多OMA系統(tǒng)之光學調變分析軟體的端對端示範,包括AWG70000系列任意波形產(chǎn)生器及DPO70000SX示波器,適合空間分隔多工 (Spatial Division Multiplexing) 等應用。

    ? 發(fā)布多種新品,將可推動下一代光學裝置和互連裝置的製造良率明顯改善。

    ? 此外,與會者還可以在Tektronix (展位2339號)領取一張有關PAM4測試的教育海報。

    「美國光纖通訊研討會及展覽會」(Optical Fiber Communication Conference and Exposition,OFC) 是專為光學通訊和網(wǎng)路專業(yè)人士所舉辦的全球最大型研討會和展覽會。40多年來,OFC 吸引了吸引了來自全球各地的與會者,在此進行會談、教學、溝通及推動業(yè)務發(fā)展。OFC 2017 將於 3 月19 至 23 日在美國加州洛杉磯舉辦。

    如需瞭解更多資訊,請瀏覽網(wǎng)址:http://www.ofcconference.org

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