身為平臺式系統供應商，NI（國家儀器）不斷致力於協助工程師與科學家，解決當今全球最艱鉅的工程挑戰。而看準複雜且日新月異的智慧裝置市場，正驅動著半導體設備商對多重測試的強勁需求，NI也藉由於2016 Semicon Taiwan的機會，祭出三大半導體測試解決方案，包括可搭配半導體測試系統（STS）使用的高功率RF模組、ATE等級的PXIe-6570數位波形儀器，以及兼具速度與靈敏度的PXIe-4135電源量測單元（SMU）。
 |
| NI 於2016 Semicon Taiwan展期祭出三大半導體測試解決方案 |
國家儀器技術行銷經理潘建安指出，隨著整合到RF前端模組的零組件越來越多，市場對高功率RF測試有極大的需求。NI半導體測試系統（STS）全新的RF功能在RF盲插狀態時，能夠以+38 dBm的速率傳輸，並以+40 dBm的速率接收，是目前市場上第一個商用化，且不用親自建置高功率模組的唯一解決方案。此外，STS可透過全功能軟體執行26GHz的S參數量測、FPGA架構的Real-Time封包追蹤及數位失真，滿足RF與混合訊號裝置製造商千變萬化的測試需求，還可為企業降低測試成本且無須犧牲量測的精準度與效能。
而為了讓半導體測試的產品選擇更加完整，NI亦推出PXIe-6570數位波形儀器與NI Digital Pattern Editor，將高階數位測試平臺才具備的數位測試功能，引進到開放式的PXI平臺中，讓工程師可妥善運用波形編輯器與除錯工具降低整體的測試成本、提升RF與類比IC的傳輸率，並讓電源管理IC、MEMS裝置與混合訊號IC製造商，突破傳統半導體自動化測試設備的封閉架構，成為PXI上第一個具備ATE等級的數位儀器，有助於企業縮短產品的上市時程。
而在半導體的電源量測方面，NI PXIe-4135 SMU具備10 fA的高靈敏度與高達200V的電壓輸出，可測試低電流訊號並進行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與各種IC特性測試。此外，工程師還可透過模組化的PXI SMU打造體積精巧、平行的多通道數系統，同時享有多達68個SMU通道的單一PXI機箱，能夠針對數百個通道執行晶圓穩定性測試與平行測試。
潘建安說，透過NI的三大半導體測試解決方案，半導體設備商可享有最即時的世界級測試服務，讓企業得以從儀器商定義測試內容的封閉式測試解決方案，邁向更開放的模組化測試平臺，協助工程師使用更智慧化的半導體測試解決方案，助力客戶通往智慧型半導體測試的階段。
