Anritsu 安立知宣布，村田制作所 (Murata Manufacturing) 使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀，成功解析了 USB 3.2 通訊過(guò)程中導(dǎo)致雜訊產(chǎn)生的機(jī)制。

安立知助力村田制作所開(kāi)發(fā) USB 3.2 雜訊抑制解決方案

USB 3.2 通訊過(guò)程中所產(chǎn)生的高頻雜訊會(huì)導(dǎo)致無(wú)線區(qū)域網(wǎng)路 (WLAN) 和 Bluetooth 無(wú)線通訊裝置的通訊速度降低、通訊品質(zhì)下降等主要問(wèn)題。

村田 Murata 建立了符合 USB-IF 標(biāo)準(zhǔn)組織 USB 3.2 RFI 系統(tǒng)級(jí)測(cè)試的電磁雜訊測(cè)試環(huán)境，并於該環(huán)境中使用 Anritsu 安立知的頻譜分析儀/訊號(hào)分析儀 MS2830A，厘清了導(dǎo)致雜訊產(chǎn)生的機(jī)制。

Anritsu 安立知致力於建立雜訊抑制解決方案，其結(jié)合了村田 Murata 在雜訊控制方面的專(zhuān)業(yè)技術(shù)和共模扼流線圈，可在保持訊號(hào)完整性的同時(shí)有效抑制雜訊。