在摩爾定律的發(fā)展極限之下,產(chǎn)生更多裝置鏈接與數(shù)據(jù)分析的需求。也由于物聯(lián)網(wǎng)與智能手機的發(fā)展,使得模擬與RF訊號更顯得重要。未來的訊號,將不再以純模擬訊號為主,而是更為復(fù)雜的模擬與RF混合訊號,這使得傳統(tǒng)ATE(半導(dǎo)體自動化測試設(shè)備)系統(tǒng)出現(xiàn)了瓶頸。由于混合訊號的測試需求不斷提升,ATE系統(tǒng)面對模擬與RF訊號卻顯得力不從心。這使得相關(guān)業(yè)者也必須開始全盤考慮新一代的半導(dǎo)體測試設(shè)備。
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不同于傳統(tǒng)ATE的封閉式架構(gòu),STS具有開放式的模塊化架構(gòu),可協(xié)助工程師運用PXI儀器。 |
對此,美商國家儀器提供了更低成本的半導(dǎo)體測試系統(tǒng)(Semiconductor Test System;STS),協(xié)助工程師和科學(xué)家克服半導(dǎo)體測試的工程挑戰(zhàn)。這是基于PXI架構(gòu)的自動化測試系統(tǒng),內(nèi)建有半導(dǎo)體生產(chǎn)測試環(huán)境的PXI模塊,有助于降低RF和混合式訊號裝置的測試成本。
相較于傳統(tǒng)的ATE系統(tǒng),STS先期用戶都證實了STS有助于降低生產(chǎn)成本、提高產(chǎn)能,而且還可以透過相同的硬件和軟件工具,同時執(zhí)行特性測試與生產(chǎn)作業(yè)。這樣一來即可更快建立數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)并縮短上市時間。
不同于傳統(tǒng)ATE的封閉式架構(gòu),STS具有開放式的模塊化架構(gòu),可協(xié)助工程師運用PXI儀器。這對RF和混合式訊號測試而言尤其重要,因為傳統(tǒng)ATE的測試范圍通常無法滿足最新半導(dǎo)體技術(shù)的需求。STS搭載TestStand測試管理軟件、和LabVIEW系統(tǒng)設(shè)計軟件,針對半導(dǎo)體生產(chǎn)環(huán)境提供了豐富的功能組合,包含可客制化的操作接口、分類機/針測機整合、裝置為主的程序設(shè)計和針腳-信道配置、標(biāo)準(zhǔn)測試數(shù)據(jù)格式報表制作、整合式多地點支持等。
這些功能讓工程師可迅速開發(fā)測試程序、加以除錯并完成布署,縮短整體的上市時間。此外,STS還配備了全封閉式的「零占用空間」測試頭、標(biāo)準(zhǔn)銜接與鏈接機構(gòu),可立即整合至半導(dǎo)體生產(chǎn)測試單元。
STS系列提供三種不同的機型:T1、T2、T4,分別容納了1、2、4個PXI機箱。這些尺寸選項,再加上所有STS機型通用的軟件、儀控和互連機構(gòu),可協(xié)助工程師充分滿足不同的針腳和地點數(shù)量需求。此外,便于擴充的STS還可以布署至特性測試甚至是生產(chǎn)環(huán)境,藉此優(yōu)化成本效益、大幅簡化建立數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)的程序,進(jìn)而縮短上市時間。